微探針

《商品介紹》：

【應用】

  MEMS垂直式探針

     應用於晶圓後測試、半導體IC積體電路測試探針卡。

  其他MEMS探針，如刀片針、彈片針等

     應用於面板測試、封裝測試、PCB測試等領域。

 

【規格】

   依客戶圖檔客製，提供專業代工服務。

   最小線寬/線距: 10μm。

   本體材質：鎳鈷合金、

   支援銅、金、鈀等表面處理。

   厚度:10um~120um。